С 25 по 27 июня 2025 года в пекинском национальном конференц-центре состоится шестое всемирное открытие всемирного фотонного конгресса. Нандженет электронике (" nat electronics ") была приглашена для участия в этом генеральной ассамблее, а также для специального доклада по архитектуре систем и оптимизации методов тестирования фазового поля с высокой интенсивностью излучения и для того, чтобы приветствовать присутствие большого числа экспертов-лидеров в качестве руководства обменом мнениями в буфете T28-1.

Генеральная Ассамблея была организована совместно китайским обществом оптических инженеров (CSOE), международным обществом оптико-инженерных исследований (SPIE), в Том числе «четырнадцатой международной конференцией по прикладной оптике и фототехнике (AOPC 2025) и «16 - й ежегодной экспозицией китайской фотоэлектронной промышленности», Ожидается, что на встрече примут участие более 3000 выдающихся ученых, предпринимателей и технологов в мировой фотоэлектрической области.

Во врем выставк, нэт коммуникацион продемонстрир высок интенсивн радиац уровн (HIRF), систем электромагнитн систем эффект испытан окружа сред различн тест измеря год T28-1 кабинк, с за рубеж эксперт учен общ исследова глобальн оптическ и в фотоэлектрон област передов технолог и последн приложен.

Система высокоинтенсивного поля радиации (HIRF), основанная на технологии фазового проксимального поля, стала преобладающей в области испытаний электромагнитных эффектов с помощью синтетических характеристик, таких как интенсивность поля, определимость зоны, сканирование луча и т.п. В связи с накоплением опыта и продукции в последние годы в области систем HIRF, нат поделится разработкой архитектуры и оптимизацией методов тестирования системы HIRF.